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Análisis forense de un dataset industrial y propuesta de un estándar gráfico para los registros en la ciberseguridad
| dc.contributor.advisor | López López, Álvaro | es_ES |
| dc.contributor.author | Buil García, Jorge | es-ES |
| dc.contributor.other | Universidad Pontificia Comillas, Escuela Técnica Superior de Ingeniería (ICAI) | es_ES |
| dc.date.accessioned | 2017-11-03T12:20:14Z | |
| dc.date.available | es_ES | |
| dc.date.issued | 2018 | es_ES |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11531/23725 | es_ES |
| dc.description | Máster Universitario en Ingeniería Industrial | es_ES |
| dc.description.abstract | La ciberseguridad se ha convertido en una preocupación de primer orden en los nuevos procesos productivos. Los sistemas de detección, predicción y respuesta ante intrusiones aparecen como la principal solución tecnológica al problema de los ciberataques. En este TFM, promovido por la Cátedra de Industria Conectada, se diseñará y modelará un sistema de detección y respuesta ante intrusiones con el objeto de contribuir al estado del arte en esta materia. | es-ES |
| dc.format.mimetype | application/pdf | es_ES |
| dc.language.iso | en-GB | es_ES |
| dc.relation.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/ | es_ES |
| dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United States | es_ES |
| dc.subject | 33 Ciencias tecnológicas | es_ES |
| dc.subject | 3310 Tecnología industrial | es_ES |
| dc.subject | 331004 Ingeniería de mantenimiento | es_ES |
| dc.subject | 331007 Estudio de tiempos y movimientos | es_ES |
| dc.subject.other | MII-N (H62-electronica) | es_ES |
| dc.title | Análisis forense de un dataset industrial y propuesta de un estándar gráfico para los registros en la ciberseguridad | es_ES |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis | es_ES |
| dc.rights.accessRights | info:eu-repo/semantics/openAccess | es_ES |
| dc.keywords | Cybersecurity, Industry 4.0, SIEM, Logs, SOC, Machine Learning, Deep Learning, ICS, IoT, Forensic Analysis, Graphic Standard, Network Forensics | es-ES |
