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dc.contributor.advisorGarcía de Garmendia, Antonioes-ES
dc.contributor.authorGarcía López, Juan Carloses-ES
dc.contributor.otherUniversidad Pontificia Comillas, Escuela Técnica Superior de Ingeniería (ICAI)es_ES
dc.date.accessioned2019-10-02T14:35:55Z
dc.date.available2019-10-02T14:35:55Z
dc.date.issued2020es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11531/41947es_ES
dc.descriptionMáster Universitario en Ingeniería Industriales_ES
dc.description.abstractLos usuarios de patentes y documentos de solicitud, como gobiernos, inventoresy corporaciones dedicadas a diferentes sectores industriales, se esfuerzan por remara la cabeza en materia de innovación. Esta memoria analiza el potencial de los datoscontenidos en solicitudes de patentes para identificar tendencias de investigación. Sepresenta un modelo basado en la extracción de datos de patentes y generación de un algoritmo no supervisado de identificación de tendencias para la representaciónde temas relevantes relativos a la generación de nuevas invenciones. El modelo Patent Radar fue probado con datos extraídos de la Oficina Europea de Patentes y Marcas (EPO). Los experimentos muestran que el método proporciona una visión general de las direcciones de las tendencias y una perspectiva detallada de las tendencias actuales.es-ES
dc.description.abstractUsers of patents and application documents, such as governments, inventors, and corporations dedicated to different industrial sectors, are striving to put their heads on innovation. This report analyzes the potential of the data contained in patent applications to identify research trends. This thesis presents a model based on the extraction of patent data and the generation of an unsupervised trend identification algorithm to represent relevant issues related to the generation of new inventions. The Patent Radar model was tested with data extracted from the European Patent and Trademark Office (EPO). Experiments show that the method provides an overview of trend directions and a detailed perspective on current trends.en-GB
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_ES
dc.language.isoes-ESes_ES
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United Stateses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/es_ES
dc.subject.otherH62-electronica (MII-N)es_ES
dc.titleVigilancia tecnológica por Big Data de patentes y espionaje industriales_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesises_ES
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/closedAccesses_ES
dc.keywordsaprendizaje automático, patentes, EPO, K-Meanses-ES
dc.keywordsmachine learning, patents, EPO, K-Meansen-GB


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