Multi-technique characterization of MOVPE-grown GaAs on Si

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Abstract

Este es un trabajo de caracterización mediante múltiples técnicas con el objeto investigar las propiedades de las capas de GaAs crecidas por MOVPE sobre sustratos de Si - (100) con un offset de 4 hacia <1 1 0> bajo diferentes condiciones de crecimiento.
In this work multi-technique characterisation is used to investigate properties of GaAs layers grown by Metal Organic Vapour Phase Epitaxy (MOVPE) on Si substrates (100) with 4 offset towards <1 1 0> under various growth conditions.
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Keywords

Nanotecnología. GaAs, Si, MOVPE, Raman, XRD, photoluminescence, CMOS, Nanotechnology. GaAs, Si, MOVPE, Raman, XRD, fotoluminescencia, CMOS

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