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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorAltares Lopez, Sergioes-ES
dc.contributor.advisorBengochea Guevara, José Maríaes-ES
dc.contributor.authorRaposo Picos, Juanes-ES
dc.contributor.otherUniversidad Pontificia Comillas, Escuela Técnica Superior de Ingeniería (ICAI)es_ES
dc.date.accessioned2025-05-29T06:12:14Z-
dc.date.available2025-05-29T06:12:14Z-
dc.date.issued2025es_ES
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11531/98879es_ES
dc.descriptionMáster Universitario en Ingeniería Industrial + Máster en Industria Conectada / in Smart Industryes_ES
dc.description.abstractnulles-ES
dc.description.abstractnullen-GB
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_ES
dc.language.isoes-ESes_ES
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 United Stateses_ES
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/us/es_ES
dc.subject.otherH62-electronica (MII-N)es_ES
dc.titleComparativa de métodos de interpretabilidad en modelos de machine learning y deep learning.es_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesises_ES
dc.rights.accessRightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_ES
dc.keywordsnulles-ES
dc.keywordsnullen-GB
Aparece en las colecciones: H62-Trabajos Fin de Máster

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