Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/11531/12070
Título : Structural investigation of MOVPE-grown GaAs on Ge by x-ray techniques
Autor : Wong, C.S.
Bennet, N.S.
Galiana Blanco, Beatriz
Benedicto Córdoba, Marcos
Molina Aldereguia, Jon
McNally, P.J.
Fecha de publicación :  4
Resumen : En este trabajo investigamos las propiedades estructurales de las capas de GaAs crecidos por epitaxia en fase vapor de metal-orgánico en sustratos Ge (1 0 0) con un offset de 6 hacia 1 1 1 bajo diversas condiciones de crecimiento.
In this work, we investigate the structural properties of GaAs layers grown by metal-organic vapour phase epitaxy on Ge substrates (1 0 0) with 6◦ offset towards 1 1 1 under various growth conditions.
Descripción : Artículos en revistas
URI : http://hdl.handle.net/11531/12070
ISSN : 0268-1242
Aparece en las colecciones: Artículos

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
Structural investigation of MOVPE GaAs on Ge by x-ray (SST).pdf1,26 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir     Request a copy


Los ítems de DSpace están protegidos por copyright, con todos los derechos reservados, a menos que se indique lo contrario.